一、為什么儀器不工作？

　　新手或有一定操作經(jīng)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)員或多或少會(huì)碰到這個(gè)“嚴(yán)重”問題，可按順序檢查下列各項(xiàng)以保證儀器和所有附件都正確接通。

　　檢查儀器和所有附件插座都插好并接通電源；

　　保證激光器（如果附帶電源）都插好并接通，由于激光器有不同種類，可參照每個(gè)激光器的說明書獲取進(jìn)一步的幫助；

　　在有兩個(gè)或多個(gè)激光器的系統(tǒng)中，確保聯(lián)鎖系統(tǒng)設(shè)置在正確的位置上，正確的激光器被接通；

　　檢查儀器的外罩處于安全的關(guān)閉狀態(tài)，聯(lián)鎖裝置正在運(yùn)轉(zhuǎn)。

　　如果以上操作都已經(jīng)檢查過，便可準(zhǔn)備進(jìn)行光譜測(cè)試了。將樣品放置在顯微鏡下，啟動(dòng)光譜操作軟件，如果仍不能得到光譜，再檢查下面各項(xiàng)：

　　保證樣品被正確地放置在顯微鏡下，測(cè)量時(shí)經(jīng)常需改變不同的測(cè)試區(qū)域以避免因樣品不純帶來一些非期望結(jié)果的可能；

　　保證激光正確輻照在樣品上，保證顯微鏡光圈的孔徑設(shè)置正確并處于正確的位置上（不同品牌的拉曼光譜儀按各自的要求處理）；

　　檢查所有軟件窗口的設(shè)置是否正確；

　　檢查成像區(qū)域設(shè)置窗口的數(shù)值并保證激光像點(diǎn)處于該區(qū)域的中心。標(biāo)準(zhǔn)成像區(qū)域應(yīng)該是激光像點(diǎn)中心垂直方向兩邊各10個(gè)像元。檢查狹縫的設(shè)置，當(dāng)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)操作時(shí)，狹縫應(yīng)為50μm。

　　如果CCD探測(cè)器飽和了，將得不到任何有用的信息。可采用降低激發(fā)光功率或提高儀器的共焦程度來避免。

　　當(dāng)檢查完上述各項(xiàng)后，應(yīng)該可以得到一張樣品的拉曼譜圖。如仍然不能得到譜圖，可先嘗試測(cè)試單晶硅的拉曼譜。單晶硅是良好的拉曼散射體，可以用來幫助驗(yàn)證儀器的性能。如果用單晶硅樣品可以獲取硅的520cm-1峰，再嘗試測(cè)試樣品。現(xiàn)在用戶可以得到樣品的拉曼信號(hào)，但可能噪聲較大。在這種情況下，可參照Q4的建議來提高信噪比和信背比。

　　二、為什么我總是在測(cè)試時(shí)得到一些位置重復(fù)的、尖銳的譜峰？

　　當(dāng)你在重復(fù)測(cè)試一個(gè)樣品時(shí)發(fā)現(xiàn)有一些尖銳譜線在相同的位置重復(fù)出現(xiàn)時(shí)，可以排除它們是宇宙射線的可能(因宇宙射線的位置足隨機(jī)的)。這些重復(fù)的尖銳譜線通常來自日光燈的發(fā)射或CRT顯示器的磷光發(fā)射，尤其當(dāng)用長(zhǎng)工作距離的物鏡時(shí)問題更嚴(yán)重。它們也可能來自氣體激光器發(fā)射的等離子線，需仔細(xì)鑒別。

　　拉曼光譜中的熒光干擾來自于汞的發(fā)射，可以將室內(nèi)的日光燈關(guān)閉或在較暗的白熾燈下工作。儀器室內(nèi)應(yīng)盡可能暗。簡(jiǎn)單的做法是將儀器室裝飾成暗房樣式，以避免任何來自所謂白光發(fā)射的無數(shù)反常規(guī)的發(fā)射譜線。

　　磷光線的干擾主要是CRT顯示器上所鍍磷光物質(zhì)引起。如發(fā)現(xiàn)此種情況，可將CRT顯示器關(guān)掉或?qū)晒馄恋牧炼日{(diào)暗。需要牢記的是：這些發(fā)射譜線的波數(shù)值永遠(yuǎn)是在同一個(gè)坐標(biāo)值上，當(dāng)轉(zhuǎn)換不同波長(zhǎng)激光激發(fā)時(shí)它們?cè)诶V上的位置是隨著移動(dòng)和改變的。

　　當(dāng)上述方法都不能解決問題而你正在使用514nm激光進(jìn)行激發(fā)時(shí)，檢查等離子線濾光片是否已經(jīng)插上。在其它激光配置系統(tǒng)中，要么不需要檢查，要么激光器上已經(jīng)包含了濾光片。

　　三、什么原因?qū)е挛业玫降墓庾V中總是有隨機(jī)的、尖銳的譜線？

　　這些譜線一般被認(rèn)為是宇宙射線。宇宙中的高能粒子輻照在CCD探測(cè)器上會(huì)導(dǎo)致電子的產(chǎn)生進(jìn)而被相機(jī)解釋為光的信號(hào)。宇宙射線在時(shí)間和產(chǎn)生的光譜位移上*是隨機(jī)的，它們有很大的強(qiáng)度、類似發(fā)射譜線、半高寬較小(<1.5m-1)。為確認(rèn)宇宙射線的存在，你可馬上重新掃描光譜會(huì)發(fā)現(xiàn)峰的消失。如果譜線依然存在，則很有可能是室內(nèi)光線的干擾。

　　宇宙射線隨著掃描曝光時(shí)間的增加出現(xiàn)的概率會(huì)增加，因此當(dāng)你長(zhǎng)時(shí)間掃描一個(gè)光譜時(shí)，必須避免宇宙射線在光譜中的出現(xiàn)，這可以通過軟件中宇宙射線去除能完成。這是一些軟件中包含的實(shí)驗(yàn)設(shè)置功能，當(dāng)使用時(shí)，將在同一樣品位置掃描三次（相當(dāng)于積分三次），軟件將比較這三次掃描獲得的光譜并去除沒有在所有光譜中出現(xiàn)的尖銳峰。

　　四、為什么在測(cè)試時(shí)一些光譜給出十分強(qiáng)的背景信號(hào)，而這些信號(hào)湮蓋了拉曼信號(hào)？

　　一些發(fā)熒光或磷光的樣品在測(cè)量時(shí)會(huì)給出非常高的背景光譜。令人遺憾的是這些是樣品材料的本征性質(zhì)，是激光輻照下無法避免的結(jié)果，而且通常情況下熒光比拉曼信號(hào)更強(qiáng)。盡管這樣，我們?nèi)钥刹扇∫恍┐胧p少或減輕熒光副作用。

　　共焦模式：采用共焦模式測(cè)量強(qiáng)光下輻照的小體積樣品時(shí)熒光將會(huì)大大降低。該法也同樣適合有熒光襯底的樣品，例如被熒光物質(zhì)基體包裹的樣品。

　　猝滅：一些樣品可采用測(cè)試前將激光輻照在表面一段時(shí)間對(duì)熒光進(jìn)行猝滅以減小熒光光譜的背景增強(qiáng)拉曼信號(hào)。猝滅的時(shí)間根據(jù)樣品不同可從幾分鐘到幾小時(shí)。值得注意的是：猝滅效應(yīng)是呈指數(shù)衰減的，一開始就可觀察到。

　　改變激發(fā)激光的波長(zhǎng)：有時(shí)改變波長(zhǎng)是*可行的避免熒光干擾的方法。對(duì)用可見光激發(fā)的系統(tǒng)，熒光都是一個(gè)頭痛的事情，將激發(fā)波長(zhǎng)移至紫外或近紅外區(qū)域很可能解決或減少此類問題。

　　如果拉曼實(shí)驗(yàn)室里有太多的室內(nèi)光源比如熒光、白熾燈或日光燈等，這會(huì)在測(cè)試光譜上出現(xiàn)不必要的背景信號(hào)。因此在測(cè)試的時(shí)候應(yīng)將室內(nèi)光關(guān)閉或降到zui小或用遮光罩將樣品臺(tái)罩住以避免外界的雜散光進(jìn)入光譜儀。

　　五、什么原因?qū)е聹y(cè)試樣品放置不同取向時(shí)得到的拉曼譜圖不相同？

　　這是因?yàn)槿肷浼す庹丈湓跇悠繁砻娌煌嫒∠蛏弦鸬摹２捎盟姆种徊ㄆ瑢?duì)激光進(jìn)行擾偏可幫助去除方向效應(yīng)。一般可向儀器公司或其它提供光學(xué)元件的公司購(gòu)買四分之一波片。

　　六、如何用拉曼光譜儀測(cè)透明的有機(jī)物液體，測(cè)試時(shí)放到了玻璃片上測(cè)出來的結(jié)果是玻璃的光譜。

　　1、應(yīng)該是聚焦位置不對(duì)，聚在玻璃上了；

　　2、你測(cè)出的玻璃的信號(hào)，有沒有可能們焦點(diǎn)位置不對(duì)；

　　3、是不是玻璃管被污染的厲害；

　　4、如果還不行，可以查一下“液芯光纖”。

　　5、用凹面載玻片，液體量會(huì)比較多，然后用顯微鏡聚焦好就可以了，如果液體有揮發(fā)性，液體上用蓋玻片，然后焦點(diǎn)聚焦到蓋玻片以下。

　　七、為什么將測(cè)試樣品放置不同取向時(shí)得到的拉曼譜圖不相同？

　　這是因?yàn)槿肷浼す庹丈湓跇悠繁砻娌煌嫒∠蛏弦鸬摹２捎盟姆种徊ㄆ瑢?duì)激光進(jìn)行擾偏可幫助去除方向效應(yīng)。一般可向儀器公司或其它提供光學(xué)元件的公司購(gòu)買四分之一波片。

　　八、如果想進(jìn)行偏振拉曼測(cè)量該怎么辦？

　　應(yīng)配置一套偏振片和半波片進(jìn)行測(cè)試，偏振拉曼可幫助測(cè)試者對(duì)分子振動(dòng)的對(duì)稱性進(jìn)行檢測(cè)。

　　九、當(dāng)樣品需要在不同高壓下測(cè)試怎么辦？

　　可向儀器公司購(gòu)置或在國(guó)內(nèi)相關(guān)單位訂制一套拉曼高壓樣品測(cè)試池對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試。

　　十、當(dāng)測(cè)試的樣品是液態(tài)、粉末或體積非常大時(shí)怎么辦？

　　液體樣品可采用毛細(xì)管或液體池或直接將液體滴在載玻片上進(jìn)行測(cè)試，粉末樣品可取少許放置在載玻片上進(jìn)行測(cè)試，固體大樣品可由儀器公司提供的大樣品臺(tái)進(jìn)行測(cè)試。